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美國時間2023年3月18日至22日，全球頂端分析化學、科學分析及實驗室展Pittcon展會（美國匹茲堡實驗室及分析儀器展）在美國費城賓夕法尼亞會議中心盛大開幕。丹東百特攜Bettersize3000Plus激光/圖像粒度粒形分析儀、BeNano 180 Zeta Pro納米粒度及Zeta電位分析儀、Bettersize2600激光粒度分析儀、BT-310系列振實密度儀等產品閃亮登場，與歐美儀器同臺競技,這是丹東百特作為中國粒度儀品牌，第九次亮相Pittcon展會。
Pittcon 是一個充滿活力的實驗室及分析儀器博覽會。百特國際部經理董莞瑩說到，“這次參展是百特2023年國際展會第一站，我們很高興再次與美洲客戶見面，展示我們最新的儀器，并與來賓討論專業知識和市場發展前景。”
本次Pittcon展會，丹東百特在1710展位上展出了激光粒度儀、納米粒度儀等多款儀器，受到來自美洲及世界各地的代理商及新老客戶的青睞與好評，展會第一天現場收獲頗豐。
參展儀器：
Bettersize 3000 Plus激光粒度儀采用了雙鏡頭斜入射光學結構，在單光束條件下實現了全角度散射光信號的接收，不僅同時實現了對納米、微米甚至毫米級樣品的準確測試，還避免了國外同類產品采用的多光束技術帶來的信號和折射率的偏差，使測試結果更穩定準確，分辨力也更高。同時，該系統中還安裝了顯微成像系統，不僅能測粒度，還能同時測粒形，為用戶提供了“一站式”顆粒表征解決方案。
BeNano 180 Zeta Pro納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。該系統中集成了背向+90°動態光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態光散射技術SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
Bettersize2600 是百特最新一代超高分辨率全能激光粒度分析儀。它采用百特的正反傅里葉結合傾斜樣品池光路系統，可以輕松實現 0.02-2600 μm 粒度范圍的準確測試。Bettersize2600 具有靈活的自動化測試設置以及全面的分散系統配置，能為各類粉體生產和應用企業以及高校和研究院所用戶提供精準、高效的粒度分析。
BT-310系列振實密度儀(BT-311、BT-312、BT-313）是百特研制的專門測試粉體振實密度的儀器，由計數系統、控制系統、驅動機構、執行機構、微型打印機以及附屬備件等組成，具有操作簡便、經久耐用、測試準確等特點，適用于非金屬粉、金屬粉體、制藥、化工、電池、磨料以及科研教學等領域。
隨著百特實力的不斷增長，在粒度測試行業正在全面趕超國際品牌，在未來國際化戰略的持續推進中，丹東百特始終以“造精品儀器，創國際品牌”為目標，把優質的產品和技術推向世界，展示“中國智造”新形象。
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